テーピング装置、テーピング、テーピング機、テーピングマシン、外観検査装置

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外観検査装置、外観検査、半導体、IC

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テーピング装置
ハンドラー装置(常高温) PH-900T
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PH-900T パーツフィーダ供給型常高温ハンドラー
半導体等をパーツフィーダ及びリニアフィーダにより自動供給し、方向判別部、方向変換部、レーザマーキング部、電気特性測定部へと順次搬送し、良品は設定温度まで加熱し、各種電気的特性を測定後、エンボスキャリアテープにテーピング収納します。また、不良品はカテゴリーごとにBINに分類されます。
特徴
パーツフィーダ供給式
超小型Photo MOSリレー SON半導体をパーツフィーダ及びリニアフィーダにより自動供給し、個別分離機構により1個ずつに分離し、真空吸着ノズルで搬送します。
回転P&P方式
方向判別部、方向変換部、レーザマーキング部、耐圧測定部へと順次搬送されます。
不良品の分類
耐圧不良品は、カテゴリー毎にBINに分類収納されます。耐圧良品は、表裏反転され加熱プレートで設定温度まで熱し、一般計測、低リーク計測、各種電気的特性を測定します。
良品のみテーピング処理
測定結果が良品となった半導体は、方向をそろえてエンボスキャリアテープに収納されます。
ジャム・チョコ停の減少
半導体搬送に回転ピック&プレース方式、1軸水平ピック&プレース方式を採用しているため、バリ等によるジャム・チョコ停を減少させます。
製品スペック
製品名 PH-900T
対象デバイス SONなど、パーツフィーダ給が可能な高電圧用半導体
部品供給方式 ボールフィーダ及びリニアフィーダ
デバイス搬送方式 個別切出~表裏反転部:インデッキングドライブ駆動回転P&P
加熱~測定部:回転インデックス インポケット搬送
分類、テープ収納:水平ピックアップ
排煙処理 排気ダクト及び集塵機 設置
高温部 常温 及び 70℃~150℃
(ヒートプレート加熱 円形ホットプレート使用)
測定部 常温1箇所 高温2箇所(一般計測・低リーク)
分類部 ビン分類(耐圧不良、耐圧未測、×マーク、一般計測不良3種、低リーク不良、未測、良品)
テーピング材料 エンボスキャリアテープ
テーピング方式 熱圧着式 シール温度:室温~180℃
キャリアリール径 供給側:φ330~φ670 シングルタイプ 巻取側:φ178~φ330
処理能力 インデックスタイム 1.7sec/個(測定時間1.0sec含む)
電源/消費電力 AC200V 単相 50/60Hz
エアー源 クリンドライエアー 0.4MPa
装置サイズ 1800(W)x660(D)x1700(H)
装置重量 約500kg
写真

   

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